滿足復雜需求的X射線熒光分析

FISCHERSCOPE®X射線 XDAL®是 XDL系列中的一款進口測厚儀，測試類型為X射線熒光測量儀器。 和它的“小兄弟”一樣，它是從上到下方向測量的，這使得測試形狀奇怪的樣品也變得輕松便捷，為了優(yōu)化您的任務的測量條件，配有可互換的準直器和過濾器作為標準配置。

對測量任務的要求越高，探測器的類型就越重要！因此FISCHERSCOPE X射線 XDAL提供了3種不同的半導體探測器。

硅PIN二極管是一種中檔檢測器，非常適合在相對較大的測量區(qū)域內測量多個元素。配備PIN的XDAL通常用于檢查硬質材料涂層。

與硅PIN二極管相比，高質量的硅漂移檢測器（SDD）具備更好的能量分辨率。如此配備的XDAL光譜儀可用于解決電子行業(yè)中的復雜測量任務：例如，測量薄合金層，或非常相似的元素（如金和鉑）的材料分析。這款值得信賴的XRF儀器可用于ENIG和ENEPIG應用的質量控制。

對于特別棘手的挑戰(zhàn)，F(xiàn)ischer還提供帶有超大探測器表面的SDD。該探測器的優(yōu)勢在于它能夠可靠地測量納米級的鍍層，并進行痕量分析。使用這些XDAL設備，您可以測試用于高可靠性應用的焊料中的鉛含量，從而避免錫須。

儀器特點

采用DIN ISO 3497和ASTM B 568標準，用于自動測量達到0.05μm的鍍層和用于ppm級含量的材料分析的通用X射線熒光光譜儀

3種不同的探測器可選（Si-PIN二極管；SDD 20 mm²；SDD 50 mm²）3

種可切換基本濾片

4種可切換準直器

小測量點約為0.15mm

樣品高度可達14cm

可編程XY工作臺，定位精度為10µm

開槽箱體設計用于測量大的印刷電路板

經過認證的全面保護設備

進口測厚儀應用

鍍層和合金（也包括薄涂層和低濃度）的材料分析

電子行業(yè)，ENIG，ENEPIG

連接器和觸點

黃金，珠寶和制表業(yè)

PCB制造薄金（幾納米）和鈀鍍層的測量

微量元素分析

高可靠性應用的鉛（Pb）的測定（避免錫晶須）

對硬質材料涂層的分析