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XTU鍍層測(cè)厚儀，是一款專門用于金屬、塑料電鍍及表面處理企業(yè)里，檢測(cè)涂鍍層厚度的儀器，儀器使用第三代EFP算法，采用微聚焦技術(shù)，可以對(duì)微小產(chǎn)品鍍點(diǎn)、異形及階梯型產(chǎn)品、多鍍層復(fù)雜鍍層的鍍層厚度的檢測(cè)都有很好的表現(xiàn)。

XTU是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度*的鍍層測(cè)厚儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì)，不但可以測(cè)量各種微小樣品，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測(cè)量，是一款測(cè)量涂鍍層成分及厚度性價(jià)比高、適用性強(qiáng)的機(jī)型。$n該系列儀器使用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內(nèi)的樣品涂鍍層檢測(cè)。$n被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。

XTU-4C釹鐵硼磁鐵鍍鎳銅鎳層厚度測(cè)試儀是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度*的鍍層測(cè)厚儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì)，不但可以測(cè)量各種微小樣品，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測(cè)量，是一款測(cè)量涂鍍層成分及厚度性價(jià)比高、適用性強(qiáng)的機(jī)型。

這是一款入門級(jí)的X-Ray鍍層測(cè)厚儀，專業(yè)用于電鍍鍍層厚度的檢測(cè)，電鍍及表面處理是生產(chǎn)制造中很重要的一個(gè)環(huán)節(jié)，也關(guān)乎著很多產(chǎn)品的質(zhì)量，包括電子電器產(chǎn)品、航空航天、軌道交通、汽車制造等等，在電鍍及表面處理行業(yè)里，鍍層厚度是企業(yè)成本的關(guān)鍵，也是電鍍類產(chǎn)品質(zhì)量的指標(biāo)之一，所以有一款能快速、方便的檢測(cè)出電鍍層厚度的儀器，是電鍍企業(yè)*的幫手。

Xray測(cè)厚儀就是用X射線檢測(cè)的原理來(lái)測(cè)量電鍍鍍層厚度的儀器，因?yàn)閄射線檢測(cè)是無(wú)損的、快速的，基本可以實(shí)時(shí)的在電鍍及工業(yè)生產(chǎn)線上，做到對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量實(shí)時(shí)的管控。儀器操作簡(jiǎn)單方便，也經(jīng)久耐用，是電鍍及表面處理行業(yè)里*的好幫手。

XAD一六測(cè)厚儀是一款上照式全元素光譜分析儀，可測(cè)量納米級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及多元素成分分析，先進(jìn)的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。

該牛津測(cè)厚儀測(cè)試類型為X射線熒光測(cè)量?jī)x器。 和它的“小兄弟”一樣，它是從上到下方向測(cè)量的，這使得測(cè)試形狀奇怪的樣品也變得輕松便捷，為了優(yōu)化您的任務(wù)的測(cè)量條件，配有可互換的準(zhǔn)直器和過(guò)濾器作為標(biāo)準(zhǔn)配置。

日立XRF測(cè)厚儀是基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無(wú)損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。

FISCHERSCOPE®X射線 XDAL®是 XDL系列中的一款進(jìn)口測(cè)厚儀，測(cè)試類型為X射線熒光測(cè)量?jī)x器。 和它的“小兄弟”一樣，它是從上到下方向測(cè)量的，這使得測(cè)試形狀奇怪的樣品也變得輕松便捷，為了優(yōu)化您的任務(wù)的測(cè)量條件，配有可互換的準(zhǔn)直器和過(guò)濾器作為標(biāo)準(zhǔn)配置。

鍍錫銅線錫層測(cè)厚儀X射線鍍層測(cè)厚儀，不僅測(cè)量精確高，而且可以對(duì)銅線進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，既便捷又快速。是生產(chǎn)鍍錫銅線的廠家或是電鍍加工廠家及銅線使用企業(yè)很好的檢測(cè)儀器。