臺(tái)式鍍層厚度測試儀專為電鍍及需要表面處理的行業(yè)設(shè)計(jì)的一款高精度鍍層厚度測試的儀器，儀器采用X射線熒光分析法，可以便捷、快速、無損的分析出電鍍鍍層的厚度和電鍍液的成分。儀器連接電腦使用，操作簡單直觀，不僅方便實(shí)驗(yàn)室使用，也方便放在電鍍產(chǎn)線上對產(chǎn)品的質(zhì)量進(jìn)行控制。

                                           臺(tái)式鍍層厚度測試儀

FISCHERSCOPE®X射線XUL®系列正是每個(gè)電鍍車間的基礎(chǔ)設(shè)備。這些簡單易用且價(jià)格適中的能量色散X射線熒光分析儀非常適合監(jiān)控鍍液成分，但在質(zhì)量控制方面也是*的幫手：堅(jiān)固耐用，非常適合測量批量生產(chǎn)的零件（如螺母和螺栓）上的電鍍層 。

XUL/XULM系列的所有X射線光譜儀操作簡單直觀。較大的樣品可以簡單地手動(dòng)放在測量室中；或者，對于較小的物品（例如插頭），儀器可以配備手動(dòng)樣品臺(tái)。盡管測量設(shè)備緊湊，但它們?yōu)槟脑嚇犹峁┝俗銐虻目臻g-高度可達(dá)17厘米。

如果您有多種不同的測量任務(wù)，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線XULM擁有可互切換的過濾器和準(zhǔn)直儀，因此您可以為所有應(yīng)用創(chuàng)造合適的測量條件。 此外，XULM具有內(nèi)置的微聚焦管，即使在測量點(diǎn)微小和鍍層很薄的情況下也能提供精確的結(jié)果。

技術(shù)指標(biāo)：

多鍍層分析，1～5層；

測試精度：0.001 μm；

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)；

測量時(shí)間：10~30秒；

SDD探測器，能量分辨率為125±5eV；

探測器Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射線管50kV/1mA，鉬，銠靶（高配微焦鉬靶）；

6個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片自動(dòng)切換；

 XYZ三維移動(dòng)平臺(tái)，MAX荷載為5公斤；

 高清CCD攝像頭（200萬像素），準(zhǔn)確監(jiān)控位置；

多變量非線性去卷積曲線擬合；

高性能FP/MLSQ分析；

儀器尺寸：618×525×490mm；

樣品臺(tái)尺寸：250×220mm；

樣品臺(tái)移動(dòng)范圍：前后左右各80mm、高度90mm。

功能特點(diǎn)： 

◆配備了半導(dǎo)體探測器，由于有更好的信噪比，能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測量 

◆使用微聚焦管可以測量較小的測量點(diǎn)，但因?yàn)槠湫盘柫枯^低，不適合測量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu)   

◆底部C型開槽的大容量測量艙 

◆有彈出功能的快速、可編程XY平臺(tái)  典型應(yīng)用領(lǐng)域： 

◆鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分） 

◆來料檢驗(yàn)，生產(chǎn)監(jiān)控 

◆研究和開發(fā) 

◆電子工業(yè) 

◆接插件和觸點(diǎn) 

◆黃金、珠寶和鐘表工業(yè) 

◆可以測量數(shù)納米薄的鍍層，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層 

◆痕量元素分析 

◆在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛（Pb）含量 

◆硬質(zhì)鍍層分析

應(yīng)用 ：

電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產(chǎn)的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護(hù)

電鍍液中金屬含量的分析

裝飾性涂層 Cr/Ni/Cu/ABS >

電子行業(yè)連接器和觸點(diǎn)上的鍍層等

軟件測試界面：

報(bào)告也可以根據(jù)客戶需要格式自己設(shè)置

也可以直接導(dǎo)出PDF，EXCEL等格式